[实用新型]一种用于硅块电阻率测试的定位装置有效
| 申请号： | 201920411711.6 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN209946214U | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 黄晶晶;张涛;肖贵云;叶鹏;陈养俊;姜志兴;贺小峰;双瑜倩;邓清香 | 申请（专利权）人： | 晶科能源有限公司;浙江晶科能源有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R27/02 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 334100 江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于硅块电阻率测试的定位装置，包括宽度与待测硅块宽度相等的定位板，定位板上设置有通孔，通孔包括去头测试孔和去尾测试孔，去头测试孔的中心与定位板顶端的距离等于待测硅块头部待去除的高度，去尾测试孔的中心与定位板底端的距离等于待测硅块尾部待去除的高度。本申请公开的上述技术方案，设置一宽度与待测硅块宽度相等的定位板，在对硅块进行电阻率测试时，可以直接通过定位板上的去头测试孔和去尾测试孔来定位待测硅块的电阻率测试点，即无需再利用尺子定位硅块去头去尾的高度，因此，可以提高测试效率。另外，由于所选择的测试点是固定的，因此，则可以避免人为因素的影响，从而可以提高测试数据的可靠性和重复性。 | ||
| 搜索关键词： | 硅块 测试孔 定位板 去头 去尾 电阻率测试 宽度相等 去除 通孔 本实用新型 定位板顶端 测试数据 测试效率 定位装置 硅块尾部 人为因素 测试点 固定的 再利用 尺子 申请 | ||
【主权项】：
1.一种用于硅块电阻率测试的定位装置，其特征在于，包括宽度与待测硅块宽度相等的定位板，所述定位板上设置有通孔，所述通孔包括去头测试孔和去尾测试孔，其中：/n所述去头测试孔的中心与所述定位板顶端的距离等于所述待测硅块头部待去除的高度，所述去尾测试孔的中心与所述定位板底端的距离等于所述待测硅块尾部待去除的高度。/n
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