[实用新型]一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置有效
| 申请号： | 201920483832.1 | 申请日： | 2019-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN209979830U | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 王文生 | 申请（专利权）人： | 北京森社电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01D18/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100121 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，涉及半导体设备领域，其包括测试盒以及与测试盒可拆卸连接的测试模块，所述测试模块内设置有环形磁芯，所述环形磁芯缠绕有原边线圈和副边线圈，所述霍尔元件卡接在环形磁芯上；所述测试盒设置有让位槽，所述让位槽位于环形磁芯的磁通回路上，所述测试模块的外侧壁设置有连通原边线圈和霍尔元件输出端的接线端子，所述测试盒内设置有连接所述副边线圈的电流源。本实用新型具有减少产品的故障率和废品率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 环形磁芯 测试盒 测试模块 本实用新型 副边线圈 原边线圈 让位槽 霍尔元件输出 老化检测装置 半导体设备 霍尔传感器 可拆卸连接 产品报废 霍尔元件 接线端子 电流源 故障率 外侧壁 磁通 卡接 连通 缠绕 | ||
【主权项】：
1.一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：包括测试盒(1)以及与测试盒(1)可拆卸连接的测试模块(2)，所述测试模块(2)包括底盒(25)，所述底盒(25)内设置有环形磁芯(21)，所述环形磁芯(21)缠绕有原边线圈(23)和副边线圈(22)，所述环形磁芯(21)上卡接有霍尔元件(32)；所述测试盒(1)设置有让位槽(13)，所述让位槽(13)位于环形磁芯(21)的磁通回路上，所述底盒(25)的外侧壁设置有连通原边线圈(23)和霍尔元件(32)输出端的接线端子，所述测试盒(1)内设置有连接所述副边线圈(22)的电流源(11)，所述底盒(25)的侧壁开设有用于置放线路的排线孔(251)。/n
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