[实用新型]一种弹簧片及测试装置有效

专利信息
申请号: 201920511545.7 申请日: 2019-04-16
公开(公告)号: CN209858697U 公开(公告)日: 2019-12-27
发明(设计)人: 戴云;顾培东 申请(专利权)人: 上海捷策创电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 11332 北京品源专利代理有限公司 代理人: 胡彬
地址: 201203 上海市浦东新区中国(上海)自*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及半导体测试技术领域,具体公开了一种弹簧片及测试装置,所述弹簧片为由金属材质制成的片状结构,所述弹簧片呈大致的阶梯状,所述弹簧片包括依次连接的第一节、第二节、第三节和第四节,所述第一节的端部的表面为连接面,所述连接面上间隔设有多个凸起,所述凸起用于和芯片的引脚抵接。测试装置包括上述弹簧片,并且弹簧片的数量为多个。该弹簧片和测试装置通过连接面与芯片的引脚连接,在测试时,只需对芯片施加很小的压力,连接面上的凸起便能够轻易地刺破引脚表层的氧化层,从而可以有效防止芯片受损。
搜索关键词: 弹簧片 测试装置 凸起 引脚 连接面 芯片 半导体测试 本实用新型 金属材质 片状结构 芯片施加 依次连接 阶梯状 氧化层 刺破 抵接 受损 测试
【主权项】:
1.一种弹簧片,其特征在于,弹簧片(1)为由金属材质制成的片状结构,所述弹簧片(1)呈大致的阶梯状,所述弹簧片(1)包括依次连接的第一节(11)、第二节(12)、第三节(13)和第四节(14),所述第一节(11)的端部的表面为连接面(111),所述连接面(111)上间隔设有多个凸起(112),所述凸起(112)用于和芯片的引脚抵接。/n
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