[实用新型]一种集成电路测试装置有效
申请号: | 201920604669.X | 申请日: | 2019-04-29 |
公开(公告)号: | CN210465604U | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 栾海林;吴松青 | 申请(专利权)人: | 南京奥敏传感技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 211800 江苏省南京市浦*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型属于集成电路测试技术领域,公开了一种集成电路测试装置,包括底座、滑槽、第一测试用PCB、放置板、集成电路、和测试装置,所述滑槽开设在所述底座的上表面,所述第一测试用PCB设置在所述底座的上表面,所述第一测试用PCB固定连接于所述底座,方便所述第二测试用PCB和所述第三测试用PCB的滑动,利用所述滑动块在所述滑槽中的滑动,所述第一移动座和所述第二移动座可以带动所述第二测试用PCB和所述第三测试用PC分别向外侧移动,从而可以改变所述第一测试用PCB、所述第二测试用PCB和所述第三测试用PCB之间的空间大小,方便使用者对不同的所述集成电路进行测试,降低了集成电路测试的成本,从而减轻了相关测试企业资金负担。 | ||
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【主权项】:
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