[实用新型]芯片检测装置有效
| 申请号： | 201920641407.0 | 申请日： | 2019-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN210283623U | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 广州众诺电子技术有限公司 |
| 主分类号： | B41J2/175 | 分类号： | B41J2/175;G03G15/08 |
| 代理公司： | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人： | 李芳 |
| 地址： | 广东省广州市高新技术产业开发区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片检测装置，所述芯片检测装置包括：模具芯片、导线和测试件，所述导线与所述模具芯片和所述测试件分别连接，所述测试件包括：基体和探针，所述探针设置于所述基体；所述探针的部分伸出于所述基体的表面，所述探针与所述导线一一对应连接。由此，芯片检测装置一方面能够检测不同类型的芯片，并且其更加便于更换芯片，节约时间，另一方面能够保证芯片的接触端子不被破坏，从而保证芯片的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 装置 | ||
【主权项】：
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