[实用新型]一种针对半导体芯片测试的高低温测试设备

摘要

本实用新型公开了一种针对半导体芯片测试的高低温测试设备，属于半导体芯片高低温测试领域，一种针对半导体芯片测试的高低温测试设备，包括工作台，工作台上端固定连接有支撑板，支撑板下端壁固定连接有水箱，水箱外端分别固定连接有风扇和水泵，水箱下端固定连接有塔式制冷片，塔式制冷片下端固定连接有薄膜式加热片，本实用新型一方面能够克服现有技术中存在的缺点，简化工作人员对待测试芯片的测试工作，另一方面在待测试芯片测试完成后，通过将待测试芯片弹出的操作，避免了工作人员需要通过工具将待测试芯片取出，在一定程度上简化了待测试芯片的取出步骤，方便了工作人员对待测试芯片的检测。