[实用新型]光栅线密度测量装置有效

专利信息
申请号: 201920721956.9 申请日: 2019-05-20
公开(公告)号: CN209689889U 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 李广伟;陈怀熹;张新彬;冯新凯;古克义;梁万国 申请(专利权)人: 中国科学院福建物质结构研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 11540 北京元周律知识产权代理有限公司 代理人: 胡璇<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 350002 福建*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请公开了一种光栅线密度测量装置,该装置包括:激光器和挡光板,激光器出射激光光束透过挡光板上的通光孔入射待测光栅,调整待测光栅至通光孔的圆心为衍射光斑圆心时,待测光栅满足0级littrow条件或‑1级Littrow条件,待测光栅从满足0级littrow条件到满足‑1级Littrow条件所转过的角度即为衍射角α,光栅线密度m:m=2*106*sinα/λ,其中,λ为激光光束的波长。该装置充分利用衍射光斑面积较大的特点,在不去除衍射光斑面积的情况下,简化测量装置结构,仅需增加挡光板即可消除衍射光斑面积对测量结果的影响,能够精确测量光栅的实际线密度。
搜索关键词: 光栅 衍射光斑 挡光板 圆心 激光光束 激光器 通光孔 测量装置结构 线密度测量 衍射角 波长 出射 去除 入射 测量 申请
【主权项】:
1.一种光栅线密度测量装置,其特征在于,包括:激光器和挡光板,所述挡光板上延所述挡光板横向贯穿所述挡光板设置通光孔;/n所述激光器出射激光光束透过所述挡光板上的通光孔入射待测光栅;调整所述待测光栅至所述通光孔的圆心为衍射光斑圆心时,所述待测光栅满足0级littrow条件或-1级Littrow条件,测量所述待测光栅从满足0级littrow条件到满足-1级Littrow条件转过的角度。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院福建物质结构研究所,未经中国科学院福建物质结构研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201920721956.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top