[实用新型]一种用于检测偏光片结构层状态的设备有效
| 申请号： | 201920945617.9 | 申请日： | 2019-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN210108684U | 公开（公告）日： | 2020-02-21 |
| 发明（设计）人： | 王雷;袁博;肖观学 | 申请（专利权）人： | 四川奥希特电子材料有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/08 |
| 代理公司： | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人： | 奚铭 |
| 地址： | 610207 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种用于检测偏光片结构层状态的设备，包括相机、折弯装置和程控实验箱，折弯装置设置与程控实验箱内，折弯装置用于夹持待测样品，并对待测样品进行折弯动作，相机设置在程控实验箱内，用于采集待测样品的图像，程控实验箱用于提供设定的温度和湿度环境。本实用新型提供了一种自动检测装置，由程控实验箱提供不同温度、湿度，由折弯装置提供不同绕度，在各种不同条件组合下，通过相机采集的图像，用于进一步分析偏光片在不同条件下的亮度、对比度的还原情况，以及寿命情况，为偏光片的研发检测提供支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 偏光 结构 状态 设备 | ||
【主权项】：
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