[实用新型]一种半导体致冷片老化测试装置有效
| 申请号： | 201921083818.9 | 申请日： | 2019-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN210222189U | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 阮秀沧;黄锦局 | 申请（专利权）人： | 泉州市依科达半导体致冷科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 吴东勤 |
| 地址： | 362261 福建省泉州*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种半导体致冷片老化测试装置，涉及半导体致冷片技术领域。半导体致冷片老化测试装置包括测试台、限位组件、第一导热板、第二导热板和测试控制器，第一导热板的底面与待测致冷片的冷面贴合，测试控制器包括处理器、供电电源、变换开关、检测组件和计时计数器，变换开关设于供电电源与所述待测致冷片之间，检测组件包括温度传感器和电流传感器，电流传感器的输入端与致冷片电性连接。本实用新型通过测试控制器的设计，以采用自动化的方式对待测致冷片进行老化测试，防止了由于采用人工手动测试导致的测试效率低下、测试精准度低的现象。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 致冷 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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