[实用新型]一种电池片测试装置有效
| 申请号： | 201921156651.4 | 申请日： | 2019-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN210142637U | 公开（公告）日： | 2020-03-13 |
| 发明（设计）人： | 何达能;方结彬;林纲正 | 申请（专利权）人： | 广东爱旭科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L31/18 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 胡枫;周应勋 |
| 地址： | 528000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电池片测试装置，包括光源组件、探针排以及与所述探针排相连接的控制系统，所述探针排包括同轴设置的若干组针座，所述若干组针座首尾依次可转动连接；每组所述针座设有若干探针，所述探针用于均匀压设在待检测的半片电池片或整片电池片的电极上；所述光源组件用于为待检测的半片电池片或整片电池片表面提供照射光源。本实用新型能根据待检测的电池片调节针座，实现对半片电池片或整片电池片进行电性能测试，尤其便于半片电池片的后续组装。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电池 测试 装置 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
