[实用新型]内存芯片超频测试模块有效

专利信息
申请号: 201921242278.4 申请日: 2019-08-02
公开(公告)号: CN209947446U 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 洪康宁 申请(专利权)人: 全何科技股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 许静;安利霞
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型为一种内存芯片超频测试模块,应用在两阶段的内存芯片测试制程中,筛检不同速度的内存芯片,包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台以及机械手臂,机械手臂电性连接测试盘区、定位暂存盘、预测试机台以及测试机台,预测试机台设置在定位暂存盘及测试机台的中间,对内存做第一阶段的测试及筛选,经过第一阶段预测试机台筛选通过的内存,将在测试机台进行完整的内存芯片测试。提高效率、准确度及减少误判。
搜索关键词: 测试机台 内存芯片 存盘 机械手臂 测试盘 测试 预测 筛选 本实用新型 准确度 测试模块 电性连接 阶段预测 误判 两阶段 超频 筛检 制程 内存 应用
【主权项】:
1.一种内存芯片超频测试模块,应用在筛检不同速度的内存芯片,其特征在于,包括:/n一测试盘区,放置待测试的内存芯片;/n一定位暂存盘,所述定位暂存盘分为一定位区以及一暂存区,所述定位区用以调整内存芯片的排列;/n至少一预测试机台,且所述预测试机台内设定有一预测试参数;/n多个测试机台;以及/n一机械手臂,所述机械手臂用以抓取内存芯片,且所述机械手臂电性连接所述测试盘区、所述定位暂存盘、所述至少一预测试机台以及多个所述测试机台;/n其中所述机械手臂从所述测试盘区抓取内存芯片至所述定位暂存盘的所述定位区,使内存芯片排列一致,再次抓取内存芯片移动至所述至少一预测试机台,借由所述至少一预测试机台依据所述预测试参数对内存芯片进行第一阶段筛检,通过第一阶段筛检的内存芯片由所述机械手臂移动到所述测试机台,对内存芯片进行完整芯片测试,所述暂存区用以存放等待进行完整芯片测试的内存芯片,未通过测试的内存芯片则由所述机械手臂移回所述测试盘区。/n
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