[实用新型]一种离子研磨仪截面加工专用显微镜的样品台有效
| 申请号： | 201921252434.5 | 申请日： | 2019-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN210778477U | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 程跃;鲍晋珍;武倩 | 申请（专利权）人： | 上海恩捷新材料科技有限公司 |
| 主分类号： | H01J37/20 | 分类号： | H01J37/20;H01J37/30;H01J37/305;G01N1/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201399 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种离子研磨仪截面加工专用显微镜的样品台，其特征在于，包括垂直定位区和水平定位区，其特征在于，显微镜垂直定位区包括定位柱I和定位孔，定位柱I凸出台面，定位孔凹于台面；显微镜水平定位区包括定位柱II和定位柱III，定位柱II和定位柱III均凸出台面。由于显微镜垂直定位区结构的变化，当样品座垂直放置于显微镜垂直定位区上，样品座不能做左右前后或旋转运动，样品座位置获得固定，便于样品进行更为准确的X方向加工位置定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 离子 研磨 截面 加工 专用 显微镜 样品 | ||
【主权项】：
暂无信息
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