[实用新型]一种微位移复合测量装置有效
申请号: | 201921378698.5 | 申请日: | 2019-08-23 |
公开(公告)号: | CN210344822U | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 朱兴龙;马倩;尹珺瑶;倪厚强;任皓 | 申请(专利权)人: | 扬州大学 |
主分类号: | F16M11/04 | 分类号: | F16M11/04;F16M11/18;F16M11/24;G01B11/02 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 董旭东;赵荔 |
地址: | 225000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供了测量技术领域内的一种微位移复合测量装置,包括支撑架,支撑架的上侧固定连接有连接架,支撑架上连接有可升降的底板,连接架上可转动地连接有用于安装透镜的透镜支架和用于安装激光笔的安装支架,激光笔发射出的光线照射在底板上,透镜的中心线和光源的轴线在一个平面内,远离安装支架的透镜支架所在一端朝外的连接架上固定连接有固定支架和可转动地连接有调节支架,调节支架上可滑动地连接有第一平面镜,固定支架上连接有可上下滑动的第二平面镜,第一平面镜的反射面和第二平面镜的反射面相对设置,第一平面镜上方的连接架上连接有朝向第二平面镜的照相设备;本实用新型分辨率高,提高测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 位移 复合 测量 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬州大学,未经扬州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201921378698.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。