[实用新型]一种微位移复合测量装置有效

专利信息
申请号: 201921378698.5 申请日: 2019-08-23
公开(公告)号: CN210344822U 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 朱兴龙;马倩;尹珺瑶;倪厚强;任皓 申请(专利权)人: 扬州大学
主分类号: F16M11/04 分类号: F16M11/04;F16M11/18;F16M11/24;G01B11/02
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人: 董旭东;赵荔
地址: 225000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供了测量技术领域内的一种微位移复合测量装置,包括支撑架,支撑架的上侧固定连接有连接架,支撑架上连接有可升降的底板,连接架上可转动地连接有用于安装透镜的透镜支架和用于安装激光笔的安装支架,激光笔发射出的光线照射在底板上,透镜的中心线和光源的轴线在一个平面内,远离安装支架的透镜支架所在一端朝外的连接架上固定连接有固定支架和可转动地连接有调节支架,调节支架上可滑动地连接有第一平面镜,固定支架上连接有可上下滑动的第二平面镜,第一平面镜的反射面和第二平面镜的反射面相对设置,第一平面镜上方的连接架上连接有朝向第二平面镜的照相设备;本实用新型分辨率高,提高测量精度。
搜索关键词: 一种 位移 复合 测量 装置
【主权项】:
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