[实用新型]紧缩场测试系统及其反射面有效
申请号: | 201921516161.0 | 申请日: | 2019-09-12 |
公开(公告)号: | CN210720582U | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 夏冬雪 | 申请(专利权)人: | 深圳市蓉声科技有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01S7/40 |
代理公司: | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人: | 麻吉凤 |
地址: | 518033 广东省深圳市福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种紧缩场测试系统及其反射面。紧缩场测试系统包括馈源、反射面和转台;馈源包括馈源天线;馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点;转台用于承载被测件;被测件设置于静区内;其中,反射面包括反射面本体;反射面本体包括抛物面,抛物面接收紧缩场中馈源发出的球面波,经过反射后产生的平面波发送至静区;反射面本体的边沿设置有卷边,卷边朝向与静区相反的方向。本实用新型卷边卷曲的边沿可以将产生的电流沿着卷曲边流动,在卷边的边沿处发生散射,由于卷边的边沿设置在与静区相反的位置上,因此不会对静区的信号产生干扰。 | ||
搜索关键词: | 紧缩 测试 系统 及其 反射 | ||
【主权项】:
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