[实用新型]半导体激光芯片低温调试机有效
| 申请号： | 201921540611.X | 申请日： | 2019-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN211195475U | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 张智峰;杜海洋 | 申请（专利权）人： | 河北圣源光电股份有限公司 |
| 主分类号： | B41J2/435 | 分类号： | B41J2/435;B41J29/377;B41J29/12 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 贺征华 |
| 地址： | 050200 河北省石*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了半导体激光芯片低温调试机，包括工作箱、制冷箱和激光打印台，工作箱的顶端四边开设有四个芯片槽，工作箱靠近四个芯片槽的一侧嵌入并固定安装有四个制冷箱，四个制冷箱均与工作箱的顶端共面，工作箱的顶端中部贯穿并固定安装有激光打印台，本实用新型，在利用该装置进行芯片低温调试时，只需把需要调试的半导体激光芯片插入相应的芯片槽内，再启动相应的制冷箱和激光打印台即可，通过四个打印头的打印清晰度能有效反应不同温度对芯片工作的影响，并可通过不断调变制冷箱的制冷温度来找到最适合芯片工作的环境温度，从而达到对半导体激光芯片的低温调试，提高了芯片工作时的可调控性。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 激光 芯片 低温 调试 | ||
【主权项】：
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