[实用新型]一种半导体探针测试治具有效
| 申请号： | 201921655213.2 | 申请日： | 2019-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN210775605U | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 向俊武;周游;陈小跃;陈浩 | 申请（专利权）人： | 安测半导体技术（江苏）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 陈亮 |
| 地址： | 225000 江苏省扬*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及半导体生产测试领域的一种半导体探针测试治具，下固定座上设置有固定台，上固定座下面设置有伸出气缸组件，伸出气缸组件下面配合设置有探针测试组件，探针测试组件设置有若干组，探针测试组件排布设置有若干组，固定台上设置有限位组件，探针测试组件对应限位组件设置；探针测试组件包括设置在限位组件左侧的左侧探针限位部，设置在限位组件右侧的右侧探针限位部，设置在限位组件上面的上侧探针限位部；该实用新型能够自动进行限位，不会安装出错，在工作时候的时候能够自动进行校正，同时确保中心探针具有较好的回弹力，提高测试效率，避免探针过快的损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 探针 测试 | ||
【主权项】：
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