[实用新型]晶圆级芯片封装结构有效
申请号: | 201921656447.9 | 申请日: | 2019-09-30 |
公开(公告)号: | CN211045375U | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
发明(设计)人: | 徐罕;陈彦亨;吴政达;林正忠;薛亚媛 | 申请(专利权)人: | 中芯长电半导体(江阴)有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31;H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 佟婷婷 |
地址: | 214437 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型提供一种晶圆级芯片封装结构,包括:待封装芯片;贴片膜,位于待封装芯片的所述第一表面,所述第一表面与所述贴片膜相接触;导电柱,形成于待封装芯片的第二表面;封装层,封装层及贴片膜将待封装芯片包覆;重新布线层与所述导电柱电连接;金属凸块,通过重新布线层及导电柱实现待封装芯片的电性引出。本实用新型采用先进行贴片,再进行重新布线层制备的方式,在扇出型晶圆级封装中,有利于缩短制程,减小作业周期,提升产品产率,有利于产品成本的降低,实现了对晶圆级芯片进行有效的六面封装,更好的包装芯片,提高产品的可靠性,采用锡膏印刷或者植球的方式形成金属凸块,减少制程的复杂性。 | ||
搜索关键词: | 晶圆级 芯片 封装 结构 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造