[实用新型]极耳检测设备及极耳处理系统有效
| 申请号： | 201921656868.1 | 申请日： | 2019-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN210575842U | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 蒋烜;金岳云 | 申请（专利权）人： | 无锡奥特维智能装备有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/687;H01L31/05 |
| 代理公司： | 北京路胜元知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11669 | 代理人： | 路兆强;蒋爱花 |
| 地址： | 214000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种极耳检测设备及极耳处理系统，所述极耳检测设备包括极耳夹持装置，所述极耳夹持装置包括梳子板组件和夹持组件；其中，所述梳子板组件包括具有插槽的梳子板及梳子板驱动机构，所述梳子板驱动机构用于驱动所述梳子板移动以使得电芯组件的一组极耳进入所述梳子板的所述插槽；所述夹持组件包括两个夹爪及驱动两个所述夹爪张开或夹紧的夹爪驱动机构；所述极耳检测设备还包括检测部件，所述检测部件用于检测两个所述夹爪夹紧所述极耳时的间距。本实用新型提供的技术方案，可以自动检测极耳穿出汇流排的情况，利于提高极耳的检测效率，缩短电池组件的生产周期。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 设备 处理 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡奥特维智能装备有限公司，未经无锡奥特维智能装备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201921656868.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
