[实用新型]芯片测试架有效
| 申请号： | 201921746905.8 | 申请日： | 2019-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN211402438U | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 田景均 | 申请（专利权）人： | 深圳泰思特半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 张小容 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种芯片测试架，其中，芯片测试架包括测试主板、测试座以及主控模块，测试座用于装设待测芯片，主控模块可拆卸连接于测试主板，且测试座可拆卸连接于所述测试主板，以使所述测试主板、测试座、主控模块三者之间电连接。通过将主控模块可拆卸连接于测试主板，使得在需要更换主控模块时，直接将主控模块拆卸下来，更换所需要的主控模块；通过将测试座可拆卸连接于所述测试主板，测试座也能随时更换，达到了需要更换主控模块和测试座时，可以直接更换所需的主控模块和测试座，解决了主控模块和测试座出现问题时，需要更换时，浪费测试板的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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