[实用新型]电子组件的测试装置有效
| 申请号： | 201921806027.4 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN211180035U | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 陈冠忠;林政辉;陈冠宇 | 申请（专利权）人： | 颖崴科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人： | 张雅军;許榮文 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种电子组件的测试装置，包含测试座及多个探针。所述测试座包括多个分别界定出多个供所述探针定位的设置孔的孔壁，每一个孔壁具有定义出两个设置位置的壁面、至少一个在所述设置位置至少其中一个而自所述壁面朝所述设置孔凸出的第一凸出部，及至少一个介于所述设置位置间而自所述壁面朝所述设置孔凸出的第二凸出部。定义每一个孔壁沿平行对应的设置孔轴向的纵方向的高度，所述至少一个第一凸出部及所述第二凸出部沿平行所述纵方向的深度，为所述高度的0.05至0.3倍。通过调整所述第一、第二凸出部，能配合所述探针的型态而形成合适的阻抗匹配，以因应高速测试的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 组件 测试 装置 | ||
【主权项】：
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