[实用新型]一种芯片切痕检验台有效
申请号: | 201922268665.1 | 申请日: | 2019-12-17 |
公开(公告)号: | CN211385870U | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | 田光明;王波;王小波 | 申请(专利权)人: | 无锡科瑞泰半导体科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/36 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214000 江苏省无锡市新吴区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种芯片切痕检验台,所述机架的上端连接有传输带,所述机架的上端两侧分别通过支架连接有检验台本体,所述检验台本体的左侧连接有弧形支撑板,所述检验台本体的上端右侧还设有滑道,所述滑道的下端位于检验台本体的下端连接有第一滑板,所述第一滑板的上端等距连接有若干组第一滑轮,所述第一滑板的右端向下倾斜设置;本实用新型可将检验完成后的合格的产品和不合格的产品进行分类存放,通过在检验台本体上设有滑道的设置,便于快速将芯片放入滑道中,同时还设有第二滑板、第二滑轮、第二软板,可将检验后的不合格芯片阻隔在传输带上检验台本体的下端,检验合格的芯片则通过第二滑板进行输送,便于检验时使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 检验 | ||
【主权项】:
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