[实用新型]一种微波芯片检测装置有效

专利信息
申请号: 201922274503.9 申请日: 2019-12-17
公开(公告)号: CN212207573U 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 邱少军;于孟国;王晶;王惠;赵娜;杨盼 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;G05B19/042
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 李明里
地址: 100074 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及一种微波芯片检测装置,属于芯片测试技术领域,解决微波芯片的无损检测问题,装置包括测试装具(2)、控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5);测试装具(2),用于无损安装待测微波芯片;控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)分别通过测试装具(2)与待测微波芯片的控制端口、微波输入端口和微波输出端口连接;输入端口(4)外接微波信号源(9),用于为待测微波芯片提供信号源;输出端口(5)外接频谱分析仪(10),用于检测待测微波芯片的输出信号;控制单元(3),用于产生控制信号,控制待测微波芯片输出信号的参数。本实用新型制造成本低、结构简单;测试过程简单、便捷,适用于批量测试。
搜索关键词: 一种 微波 芯片 检测 装置
【主权项】:
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