[实用新型]一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置有效
| 申请号： | 201922341972.8 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN211577294U | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 朱永兵 | 申请（专利权）人： | 天津海瑞电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 刘玲 |
| 地址： | 300384 天津市西青区华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，包括高温反偏测试机机体，高温反偏测试机机体一侧的顶部固定安装有高温柜，高温柜的一侧铰接有柜门，高温柜的内部开设有三个测试腔，三个测试腔的内部抽拉连接有电子元件测试板，电子元件测试板由放置板和密封板组成，放置板的一端固定连接有密封板，三个放置板的顶部均开设有若干个放置槽，本实用新型一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，抽出和推入电子元件测试板，完成对电子元件的取放，操作方便快捷，先设定好工作的温度、电流和工作时间，电子元件在通电和高温环境下进行试验，计算不良率，分析得到电子元件寿命和性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 便于 电子元件 高温 加速 寿命 测试 装置 | ||
【主权项】：
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