[实用新型]一种LED芯片测试用合金针

摘要

本实用新型公开了一种LED芯片测试用合金针，包括上探针和定位槽，所述上探针上端安装有上端头，且上探针下端固定安装有限位块，同时上探针下端设置在第一针筒内部，并且第一针筒的内壁上固定安装有限位槽，上探针下端与连接柱固定连接，第一针筒底部与第二针筒固定连接，且第二针筒内部安装有下探针，同时下探针下端固定安装有下端头；所述定位槽开设在第一针筒的底部，且第一针筒底部右侧开设有右连接孔。该LED芯片测试用合金针，具有任意一端的探针发生损坏的时候，更换相应的针筒即可，不必更换整个探针装置，减少装置的维护成本；避免芯片与两组探针之间发生刚性接触，减少芯片被探针损坏的概率的特点。