[实用新型]一种IC芯片测试治具有效
| 申请号： | 201922385042.2 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN211696446U | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 关超君 | 申请（专利权）人： | 关超君 |
| 主分类号： | G01D11/00 | 分类号： | G01D11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250000 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型公开种IC芯片测试治具，包括芯片，所述芯片的底部设有吸附机构，所述吸附机构包括底座、吸盘和竖板，所述底座设于芯片的底部，所述底座的底部四角均安装有吸盘，所述底座的顶部固接有竖板。该IC芯片测试治具通过吸盘、底座和竖板之间的配合，使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率，该IC芯片测试治具通过横板、圆板和V型块之间的配合，使得芯片可进行多种角度的转动调节，方便测试者对芯片进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 芯片 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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