[发明专利]用于形成具有背面字线的三维存储器件的方法有效
申请号: | 201980000832.4 | 申请日: | 2019-04-30 |
公开(公告)号: | CN110301046B | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 肖莉红 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11551 | 分类号: | H01L27/11551;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 林锦辉 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本文公开了用于形成具有弯折背面字线的三维(3D)存储器件方法的实施例。在示例中,公开了一种用于形成3D存储器件的方法。凹口被形成于衬底的至少一个边缘上。在所述衬底上方并且横向延伸超出所述衬底的至少一个边缘形成半导体层以覆盖所述凹口。沿着所述半导体层的正面和至少一个边缘并沿着所述凹口的顶表面、侧表面和底表面形成多个交错的导电层和介电质层。去除所述衬底的部分以暴露所述半导体层下面的交错的导电层和介电质层。 | ||
搜索关键词: | 用于 形成 具有 背面 三维 存储 器件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于形成三维(3D)存储器件的方法,包括:在衬底的至少一个边缘上形成凹口;形成半导体层,所述导体层在所述衬底上方并且横向延伸超出所述衬底的至少一个边缘以覆盖所述凹口;沿着所述半导体层的正面和所述至少一个边缘并沿着所述凹口的顶表面、侧表面和底表面形成多个交错的导电层和介电质层;以及去除所述衬底的一部分以暴露所述半导体层下方的所述交错的导电层和介电质层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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