[发明专利]电磁波检测装置有效
| 申请号： | 201980006851.8 | 申请日： | 2019-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN111527740B | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 竹内绘梨 | 申请（专利权）人： | 京瓷株式会社 |
| 主分类号： | H04N5/225 | 分类号： | H04N5/225;G01J1/04;G02B26/08;H01L31/0232 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 向勇;宋晓宝 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 电磁波检测装置(10)具有第一成像部(15)、行进部(18)、第二成像部(19)、以及第一检测部(20)。在行进部(18)沿着基准面(ss)配置有多个像素(px)。行进部(18)使从第一成像部(15)入射至基准面(ss)的电磁波沿第一方向(d1)行进。第一检测部(20)对从第二成像部(19)入射的电磁波进行检测。电磁波检测装置(10)至少满足如下配置中的至少一方：基准面(ss)以及第一检测部(20)的检测面各自的延长面交叉，第二成像部(19)的主轴与基准面(ss)以及第一检测部(20)的检测面交叉的配置；以及与行进部(18)的间隔被确定且以基准面(ss)为成像面的所述第一成像部(15)的物体面(vp)和基准面(ss)各自的延长面交叉，第一成像部(15)的主轴与基准面(ss)交叉的配置。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁波 检测 装置 | ||
【主权项】：
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