[发明专利]光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器有效
申请号: | 201980016793.7 | 申请日: | 2019-03-08 |
公开(公告)号: | CN111819464B | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
发明(设计)人: | 堀野昌伸;松井优贵;中室健;仲田佐幸 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01S7/487 | 分类号: | G01S7/487;G01S17/10 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 邓毅;黄纶伟 |
地址: | 日本国京*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 光检测装置(1)根据检测开始定时而检测入射的光。光检测装置具有多个受光元件(10a~10c)、信号合成电路(13)、检测电路(14)、时间计测电路(4)和定时提取电路(3)。多个受光元件接收光,分别生成表示受光结果的输出信号。信号合成电路对来自各受光元件的多个输出信号进行合计,从而生成合成信号。检测电路检测合成信号达到第1阈值(V1)以上的定时,从而生成检测信号。时间计测电路根据检测信号,计测检测开始定时与检测出的定时之间的测量期间。定时提取电路在以检测出的定时为基准的预定期间内,提取表示合成信号增加的定时的定时信息(D3)。 | ||
搜索关键词: | 检测 装置 方法 光学 测距 传感器 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧姆龙株式会社,未经欧姆龙株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201980016793.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。