[发明专利]训练用于低分辨率图像中的缺陷检测的神经网络有效

专利信息
申请号: 201980017305.4 申请日: 2019-03-28
公开(公告)号: CN111819676B 公开(公告)日: 2022-01-14
发明(设计)人: K·巴哈斯卡尔;L·卡尔森迪;B·里斯;L·尼古拉德斯;R·森伟·杨;S·希伯特 申请(专利权)人: 科磊股份有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/66;G03F7/20
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 刘丽楠
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供用于训练用于低分辨率图像中的缺陷检测的神经网络的方法及系统。一个系统包含:检验工具,其包含高分辨率成像子系统及低分辨率成像子系统;及一或多个组件,其包含高分辨率神经网络及低分辨率神经网络。所述系统的计算机子系统经配置用于产生缺陷图像的训练集。所述缺陷图像中的至少一者由所述高分辨率神经网络使用由所述高分辨率成像子系统产生的图像合成地产生。所述计算机子系统还经配置用于使用缺陷图像的所述训练集作为输入而训练所述低分辨率神经网络。另外,所述计算机子系统经配置用于通过将由所述低分辨率成像子系统针对另一样品产生的所述图像输入到所述经训练低分辨率神经网络中而检测所述另一样品上的缺陷。
搜索关键词: 训练 用于 分辨率 图像 中的 缺陷 检测 神经网络
【主权项】:
暂无信息
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