[发明专利]芯片、芯片测试方法及电子设备有效
| 申请号： | 201980039412.7 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112805577B | 公开（公告）日： | 2023-09-15 |
| 发明（设计）人： | 王毓千;姚水音;梁洪昌;唐志敏 | 申请（专利权）人： | 成都海光集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 610041 四川省成都市自由贸易试验区成都高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种芯片、芯片测试方法及电子设备。芯片包括：组合逻辑和数据路径选通电门；数据路径选通电门包括第一输入端和输出端，其中数据路径选通电门的第一输入端检测测试使能信号，数据路径选通电门的输出端连接至组合逻辑；测试使能信号用于切换芯片的测试模式；数据路径选通电门配置为在检测的测试使能信号指示的当前测试模式与组合逻辑的数据路径功能不相关时，向组合逻辑输出数据路径选通控制信号；以及组合逻辑配置为在接收数据路径选通控制信号后，关闭数据路径功能，以关闭数据路径切换。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
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