[发明专利]传感器系统的检查装置及检查方法在审

专利信息
申请号: 201980047948.3 申请日: 2019-07-11
公开(公告)号: CN112437880A 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 渡边重之;绵野裕一;冈村俊亮 申请(专利权)人: 株式会社小糸制作所
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958;G01M11/00;G01S7/497
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 丁紫玉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种传感器系统(100),具备射出检测光(L1)的发光元件、允许检测光(L1)穿过的透光罩(120)、以及使检测光(L1)的射出方向至少在第一方向(D1)上变化的扫描机构。受光装置(210)具备沿着第一方向(D1)排列的多个检查受光元件(211a~211g)。受光装置(210)配置于穿过透光罩(120)的检测光(L1)的光路上。检查处理器(220)基于多个检查受光元件(211a~211g)各自是否正常接收到检测光(L1),输出表示透光罩(120)有无异常的判定结果(R)。
搜索关键词: 传感器 系统 检查 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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