[发明专利]用于集成电路中焊丝测试的方法和装置在审
| 申请号： | 201980059948.5 | 申请日： | 2019-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN112689768A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 安东尼·J·舒托;约翰·约瑟夫·阿雷纳;约瑟夫·弗朗西斯·瑞因 | 申请（专利权）人： | 泰瑞达公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 赵晓祎;戚传江 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文公开了基于焊丝之间的电容耦合来识别IC设备中的潜在缺陷的测试装置和方法。焊丝可具有在测试时不显现为硬短路或硬开路的潜在缺陷，但可造成随时间推移发展成硬短路或硬开路的高风险。潜在缺陷可在两条相邻的焊丝受到干扰而变得彼此靠近时形成。根据一些实施方案，一对引脚之间的电容耦合可用于提供连接到该一对引脚的焊丝之间的近短路潜在缺陷的指示。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 焊丝 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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