[发明专利]自动分析装置在审
| 申请号： | 201980059978.6 | 申请日： | 2019-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN112689764A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 福士雄大;森高通 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/10 | 分类号： | G01N35/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴秋明 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 自动分析装置(100)具备：样品取样器(11a)，将分注对象分注到使分析对象的样品与试剂发生反应的多个反应容器(2)中；测定部(光源(4a)、分光光度计(4)以及控制装置(21))，对反应容器(2)的样品与试剂的反应液进行测定；清洗槽，进行取样器的清洗；以及控制装置(21)，对取样器、测定部、以及清洗槽(13)的动作进行控制，清洗槽(13)具有：清洗池(36)，存积用于浸渍并清洗取样器的清洗水；以及干燥槽(37)，吸引附着于取样器的表面的清洗水，控制装置(21)在将取样器浸渍于清洗池(36)的清洗水中进行清洗后，在干燥槽(37)中吸引取样器的表面的清洗水。由此，能够削减取样器的清洗中的清洗水的使用量。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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