[发明专利]分光光度计和分光分析装置、以及分光光度计的制造方法在审
申请号: | 201980068536.8 | 申请日: | 2019-11-19 |
公开(公告)号: | CN112912701A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 八重樫健太;江畠佳定;青野宇纪 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01J3/20 | 分类号: | G01J3/20;G01J3/36;H01L31/00;G01N21/27;G02B5/18 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 邓晔;宋俊寅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 分光光度计(300)包括白色光源(212)、对从白色光源(212)释放的光进行聚光的聚光透镜(242a、242b)、对由聚光透镜(242a、242b)聚光后的光进行衍射的狭缝(245)、对通过狭缝(245)的光进行分光的凹面衍射光栅(246)、以及具有对由凹面衍射光栅(246)分光后的光进行检测的多个光检测元件(304)的多波长检测器(248),多波长检测器(248)具有的多个光检测元件(304)中的各个配置于凹面衍射光栅(246)的成像位置。 | ||
搜索关键词: | 分光 光度计 分析 装置 以及 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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