[发明专利]使用内置自测控制器测试只读存储器在审
| 申请号： | 201980070484.8 | 申请日： | 2019-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112912958A | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | P·纳拉亚南;N·纳雷什;P·T·印乌甘狄;R·C·屋良维阿西娜哈利;A·阿查里雅;J·辛格;N·A·纳拉亚南 | 申请（专利权）人： | 德州仪器公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G06F11/27 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种系统包含易失性存储装置(106)、只读存储器ROM(104)、存储器内置自测BIST控制器(110)及中央处理单元CPU(102)。所述CPU(102)在发生复位事件后即刻执行来自所述ROM(104)的第一指令，以致使所述CPU(102)将指令从所述ROM(104)中的一系列地址拷贝到所述易失性存储装置(106)。所述CPU(102)还执行来自所述ROM(104)的第二指令以改变程序计数器。所述CPU(102)进一步使用所述程序计数器执行来自所述易失性存储装置(106)的所述指令。所述CPU(102)在执行来自所述易失性存储装置(106)的所述指令时，致使所述ROM(104)进入测试模式且致使所述存储器BIST控制器(110)经配置以测试所述ROM(104)。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 内置 自测 控制器 测试 只读存储器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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