[发明专利]单晶X射线构造解析装置和方法及用于其的试料保持器在审
| 申请号： | 201980076225.6 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN113056669A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 佐藤孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20025 | 分类号： | G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王晖 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线构造解析的单晶X射线构造解析装置，还提供用于其的方法、试料保持器。具备：产生X射线的X射线源；对试料进行保持的试料保持器(250)；安装并转动试料保持器(250)的测角仪；X射线照射部，针对保持在安装于测角仪的试料保持器(250)的试料，照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，对被试料衍射或散射的X射线进行检测并测定；和构造解析部，基于由X射线检测测定部检测出的衍射X射线或散射X射线进行试料的构造解析，试料保持器(250)包括能够将试料吸附到形成在内部的多个微细孔的细孔性复合晶体，细孔性复合晶体在试料保持器(250)被安装在测角仪的状态下，被固定在被照射来自试料保持器(250)的X射线照射部的X射线的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 构造 解析 装置 方法 用于 保持 | ||
【主权项】：
暂无信息
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