[发明专利]使用外延半导体沟道和掩埋源极线的三维存储器器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201980079333.9 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN113169179A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: A·拉贾谢哈尔;周非;R·沙朗帕尼;R·S·马卡拉 申请(专利权)人: 桑迪士克科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11556 分类号: H01L27/11556;H01L27/1158;H01L27/11524;H01L27/1157;H01L27/11582;H01L21/28;H01L29/792
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种三维存储器器件,该三维存储器器件包括:绝缘层和导电层的交替堆叠,该交替堆叠位于单晶半导体层上方;单晶外延源极半导体层,该单晶外延源极半导体层位于该单晶半导体层与该交替堆叠之间并且与该单晶半导体层外延对准;和存储器堆叠结构,该存储器堆叠结构竖直延伸穿过该交替堆叠并且包括存储器膜和外延竖直半导体沟道,该外延竖直半导体沟道包括在界面处与该外延源极半导体层外延对准的单晶半导体材料。
搜索关键词: 使用 外延 半导体 沟道 掩埋 源极线 三维 存储器 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
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