[发明专利]用于分子检测的热传感器阵列和相关检测方案在审
| 申请号： | 201980085444.0 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN114041045A | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | D·贝道;P·布拉甘卡 | 申请（专利权）人： | 西部数据技术公司 |
| 主分类号： | G01K7/02 | 分类号： | G01K7/02;G01K7/16;G01K7/24;G01K5/62;G01N25/20;G01R33/00;G01R33/12;B82Y25/00;C12Q1/6869 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邱军 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文公开了检测设备、包括此类检测设备的系统以及使用此类检测设备的方法。检测设备包括流体通道、多个温度传感器和绝缘材料，该流体通道被配置为容纳多个待检测分子，该绝缘材料包封该多个温度传感器并且在该多个温度传感器和该流体通道的内容物之间提供屏障。在该流体通道内，该绝缘材料的表面提供用于结合该多个待检测分子的多个位点。该多个温度传感器中的每个温度传感器被配置为在存在交变磁场的情况下检测温度变化，该温度变化指示在该多个位点的相应子集处耦合到该多个待检测分子中的至少一个待检测分子的一个或多个磁性纳米颗粒(MNP)存在或不存在。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分子 检测 传感器 阵列 相关 方案 | ||
【主权项】：
暂无信息
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