[发明专利]单晶X射线构造解析系统在审
| 申请号： | 201980088789.1 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN113454447A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 佐藤孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20025 | 分类号： | G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张远 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供能够可靠且容易地进行将微量的试样向微细的晶体海绵的骨架内吸藏的缜密的工序的单晶X射线构造解析系统。具备吸藏装置(500)和单晶X射线构造解析装置，单晶X射线构造解析装置具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的构造解析的构造解析部，试样固定器包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，吸藏装置(500)使试样吸藏在试样固定器的细孔性络合物晶体。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 构造 解析 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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