[发明专利]外延生长装置的工艺腔室在审
申请号: | 201980097920.0 | 申请日: | 2019-07-25 |
公开(公告)号: | CN114026675A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 岡部晃;竹永幸生 | 申请(专利权)人: | 爱必克股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 石佳 |
地址: | 日本长崎县大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种外延生长装置的工艺腔室,其是反应处理半导体基板的工艺腔室,具有:基座,由仅支撑径向中心部且沿上下方向延伸的轴构件支撑并配置在所述工艺腔室中,所述基座上载置所述半导体基板;指板晶圆升降机,配置在所述基座的下方并且被构成为可在所述轴构件的轴向方向上移动;升降销,随着所述指板晶圆升降机接近所述基座,使所述半导体基板从所述基座的上表面向上方位移;所述基座中形成有所述升降销穿过的贯通孔。 | ||
搜索关键词: | 外延 生长 装置 工艺 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱必克股份有限公司,未经爱必克股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201980097920.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造