[发明专利]一种基于电容阵列的芯片参数检测方法及装置在审
| 申请号： | 202010013541.3 | 申请日： | 2020-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN111207659A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 霍彦明;李争;张路成;李晓伟;谷存江 | 申请（专利权）人： | 河北科技大学;石家庄辐科电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00;G01B7/31;G01B7/30;G01B7/06;G01D5/24 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 秦敏华 |
| 地址： | 050018 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种基于电容阵列的芯片参数检测方法及装置，涉及电子元器件检测领域。上述芯片参数检测方法及装置通过将待检测芯片置于电容阵列的上极板阵列与下极板阵列之间，分别采集各个电容的电容值，得到电容值矩阵，基于电容值矩阵中目标元素所在位置，确定待检测芯片的中心轴线，基于中心轴线和预设的0度参考线，确定并输出待检测芯片的偏移角度，从而有利于贴片机根据该偏移角度对待检测芯片进行针对性操作，避免了限制装置的使用，提升了芯片贴片作业的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电容 阵列 芯片 参数 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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