[发明专利]目标版图的修正方法及掩膜版版图的形成方法在审

专利信息
申请号: 202010023431.5 申请日: 2020-01-09
公开(公告)号: CN113109991A 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 王健;张迎春 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: G03F1/72 分类号: G03F1/72;G03F1/76;G03F7/20
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 徐文欣
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种目标版图的修正方法、掩膜版版图的形成方法及其掩膜版,修正方法包括:提供初始目标版图,所述初始目标版图包括若干初始图形;对所述初始目标版图进行模拟曝光获取模拟曝光版图,所述模拟曝光版图上具有若干与初始图形对应的模拟曝光图形,所述模拟曝光版图包括沿第一方向排列的若干修正区;在至少一个所述修正区的模拟曝光图形中获取目标图形;获取所述目标图形对应的修正区的修正规则;通过所述修正规则对所述目标图形进行修正,获取修正图形。所述修正方法得到的掩膜版版图修正效果较好,精度较高。
搜索关键词: 目标 版图 修正 方法 掩膜版 形成
【主权项】:
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