[发明专利]半成品的缺陷检测设备在审
| 申请号： | 202010036892.6 | 申请日： | 2020-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN113189107A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 郭温良;柯冠宇;张艳鹏 | 申请（专利权）人： | 纮华电子科技(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01;G01N21/15 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 任芸芸;郑特强 |
| 地址： | 201801 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种半成品的缺陷检测设备，包含机架以及安装于机架的平面移载机构、光学检测机构与遮尘件。所述平面移载机构的移动范围定义有待测区及防尘区、并能用来定位多个相机模块，以使其在待测区及防尘区移动。所述光学检测机构位于待测区的上方、并用来对多个相机模块依序地拍摄，以取得检测图像。所述遮尘件覆盖防尘区，用以使通过光学检测机构检测的至少一个所述相机模块的被拍摄区域能够符合所述检测图像。据此，所述半成品的缺陷检测设备能有效地提升所述相机模块的检测精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 半成品 缺陷 检测 设备 | ||
【主权项】：
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