[发明专利]密封缺陷的检测方法及装置有效
| 申请号： | 202010044176.2 | 申请日： | 2020-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN111250429B | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 张甜 | 申请（专利权）人： | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市华讯方舟光电技术有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;G01N21/892;G06T7/00 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 刘永康 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请属于医药检测的技术领域，提供了一种密封缺陷的检测方法及装置，该方法包括：通过光频谱仪采集药物的光谱数据；所述光谱数据包括所述药物的包胶区域的表面信息、厚度信息和内部特征信息；将所述光谱数据转换为图像数据，并将所述图像数据输入缺陷检测模型对包胶的所述药物的密封性进行检测得到检测结果；若所述检测结果为不合格，则将所述药物筛除。本申请实施例解决无法将由于包胶厚度问题或内在问题导致密封性差的药物检测出来的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 密封 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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