[发明专利]半导体装置及半导体电路在审

专利信息
申请号: 202010050387.7 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN112542513A 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 末代知子;岩鍜治阳子 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L27/07;H01L29/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘英华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施方式提供具有IGBT和二极管并能够缩小芯片尺寸的半导体装置及半导体电路。半导体装置具备:半导体层,具有第1导电型的第1半导体区域、第2导电型的第2半导体区域、第2导电型的第3半导体区域、第1导电型的第4半导体区域、第2导电型的第5半导体区域、第1导电型的第6半导体区域、第1沟槽和第2沟槽;第1沟槽中的第1栅极电极;第2沟槽中的第2栅极电极;第1面侧的第1电极;第2面侧的第2电极;与第1栅极电极连接的第1电极焊盘;与第2栅极电极连接的第2电极焊盘,该半导体装置具有包含第1半导体区域的第1区域、包含第2半导体区域的第2区域及设置于第1区域与第2区域之间且与第1区域相比第2沟槽的密度更高的第3区域。
搜索关键词: 半导体 装置 电路
【主权项】:
暂无信息
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