[发明专利]基于FPGA的多路间歇断开故障并行测试系统有效

专利信息
申请号: 202010073581.7 申请日: 2020-01-22
公开(公告)号: CN111257729B 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 刘冠军;李华康;吕克洪;邱静;张勇;杨鹏;吴晓龙;程先哲;祝尊卿 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京律谱知识产权代理有限公司 11457 代理人: 黄云铎
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 本申请公开了基于FPGA的多路间歇断开故障并行测试系统,适用于对电子设备中的多个连接环节的间歇断开故障检测与诊断,该系统包括:电压耦合模块设置于系统的检测端,电压耦合模块包括多个耦合子模块,任一个耦合子模块包括并联的第一电阻和第二电阻,第一电阻的一端与第二电阻并联后连接于检测端,第一电阻的另一端连接于系统的低电平端,第二电阻的另一端连接于耦合子模块的输出端,耦合子模块用于将第二电阻的电压信号传输至信号处理模块;信号处理模块用于当判定电压信号小于故障电压阈值时,判定连接环节发生间歇断开故障。通过本申请中的技术方案,实现了多路连接环节间歇故障并行检测,有助于改善间歇故障测试困难、测试覆盖不全的问题。
搜索关键词: 基于 fpga 间歇 断开 故障 并行 测试 系统
【主权项】:
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