[发明专利]半导体存储装置在审
申请号: | 202010079277.3 | 申请日: | 2020-02-03 |
公开(公告)号: | CN112310279A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 大出裕之 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 实施方式提供一种容易微细化的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具备第1电极及第2电极、设置在所述第1电极及第2电极之间的相变层、以及设置在第1电极及相变层之间的导电层。相变层包含第1晶格常数的面心立方晶格结构的结晶,导电层包含第2晶格常数的面心立方晶格结构的结晶。第2晶格常数大于所述第1晶格常数的80%且小于120%。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于铠侠股份有限公司,未经铠侠股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010079277.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。