[发明专利]曝光系统以及物品制造方法在审
申请号: | 202010089788.3 | 申请日: | 2020-02-13 |
公开(公告)号: | CN111580358A | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 土井贤;大手启介;雨宫靖;金田崇;安斋干人 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G03F9/00 | 分类号: | G03F9/00;G03F7/20 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 程晨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供在成本以及生产率方面有利的曝光系统以及物品制造方法。曝光系统包括:第1曝光装置,对基板的第1拍摄区域曝光;第2曝光装置,对基板的与第1拍摄区域不同的第2拍摄区域曝光;标志形成装置,在基板的与第1拍摄区域及第2拍摄区域不同的位置形成对准标志。第1曝光装置包括检测通过标志形成装置形成于基板的对准标志的第1标志检测部,第2曝光装置包括检测通过标志形成装置形成于基板的对准标志的第2标志检测部,根据由第1曝光装置中的第1标志检测部检测出的对准标志的信息和由第2标志检测部检测出的对准标志的信息,决定用于校正第2拍摄区域相对第1拍摄区域的排列误差的校正参数,反映该校正参数而对第2拍摄区域曝光。 | ||
搜索关键词: | 曝光 系统 以及 物品 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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