[发明专利]一种功率器件热阻测试方法在审

专利信息
申请号: 202010101361.0 申请日: 2020-02-19
公开(公告)号: CN111198314A 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 洪思忠;胡羽中 申请(专利权)人: 华芯威半导体科技(北京)有限责任公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京邦创至诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11717 代理人: 张宇锋
地址: 100744 北京市大兴区北京经济*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种功率器件热阻测试方法,该方法通过绘成温度、电流和压降的三维图,进而用特定数值的电流,测到压降值,即可得到对应的结温值。热阻测试过程中,测试到压降值,可以自动调取数据库中数值,带入热阻的计算公式中,进行计算,可以得到更准确的热阻值。本发明为降低以往由于测K系数误差造成的热阻偏差,从进一步准确评估结温入手,进而提高热阻测量准确度,以便能更加准确的评估器件的应用性能。
搜索关键词: 一种 功率 器件 测试 方法
【主权项】:
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