[发明专利]半导体装置及调试系统在审
申请号: | 202010112324.X | 申请日: | 2020-02-24 |
公开(公告)号: | CN111625411A | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 西山高浩 | 申请(专利权)人: | 罗姆股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;G06F13/16 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 林斯凯 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明不对程序的执行动作产生影响地监控CPU等的读出或写入数据。本发明涉及一种半导体装置及调试系统。LSI具备:处理部,执行程序;存储部,能够执行读出动作或写入动作;内部总线,连接在处理部及存储部;以及监控部(21)。处理部能够执行读出访问或写入访问,该读出访问是将读出使能信号(RE)及地址信号(ADD)输出到内部总线,该写入访问是将写入数据(WD)、写入使能信号(WE)及地址信号输出到内部总线。存储部响应读出访问而将读出数据输出到内部总线,响应写入访问而存储写入数据。监控部在存在符合所设定的监控条件的访问时,锁存要经由内部总线而传送的读出数据或写入数据。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 调试 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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